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T 工业技术 (8)

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	1.		半导体集成电路的可靠性及评价方法订购中 (含光盘) 著者: 章晓文恩云飞出版社: 电子工业出版社出版日期: 2015 文献类型: 图书 , 索书号: TN43/0460 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	2.		电子元器件失效分析与典型案例订购中 (含光盘) 著者: 孔学东恩云飞出版社: 国防工业出版社出版日期: 2006 文献类型: 图书 , 索书号: TN601/1494 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	3.		电子元器件失效分析技术订购中 (含光盘) 著者: 恩云飞来萍李少平出版社: 电子工业出版社出版日期: 2015 文献类型: 图书 , 索书号: TN6/6311-1 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	4.		可靠性物理订购中 (含光盘) 著者: 恩云飞谢少锋何小琦出版社: 电子工业出版社出版日期: 2015 文献类型: 图书 , 索书号: TN6/6311 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	5.		电子产品故障预测与健康管理：应用构架与实践：application framework and practice 已借1次. 订购中 (含光盘) 著者: 孔学东恩云飞陆裕东出版社: 电子工业出版社出版日期: 2013 文献类型: 图书 , 索书号: TN06/1494 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	6.		MEMS可靠性订购中 (含光盘) 著者: 哈策尔席尔瓦谢伊出版社: 电子工业出版社出版日期: 2012 文献类型: 图书 , 索书号: TN4/6082 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	7.		电子封装技术与可靠性订购中 (含光盘) 著者: 阿德比利派克出版社: 化学工业出版社出版日期: 2012 文献类型: 图书 , 索书号: TN05/7222-1 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	8.		ESD揭秘：静电防护原理和典型应用：from semiconductor manufacturing to product use 已借1次. 订购中 (含光盘) 著者: 沃尔德曼出版社: 机械工业出版社出版日期: 2014 文献类型: 图书 , 索书号: TN430.2/3122-1 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介

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